日本AITEC艾泰克NIR/SWIR光源盒LLBKC系列

日本AITEC艾泰克NIR/SWIR光源盒LLBKC系列

一、產(chǎn)品核心價值

LLBKC系列是AITEC公司針對工業(yè)精密檢測研發(fā)的第三代紅外光源系統(tǒng)，采用LED陣列技術(shù)實現(xiàn)740-1650nm寬光譜覆蓋。該產(chǎn)品突破了傳統(tǒng)紅外光源在穩(wěn)定性、壽命和熱管理方面的技術(shù)瓶頸，通過模塊化設(shè)計為機器視覺系統(tǒng)提供"零熱干擾"的光學(xué)引擎。其核心價值體現(xiàn)在三方面：1）多波長精準(zhǔn)匹配物質(zhì)特征吸收峰；2）超緊湊機身適應(yīng)自動化設(shè)備集成需求；3）智能聯(lián)網(wǎng)功能滿足工業(yè)4.0標(biāo)準(zhǔn)。

二、關(guān)鍵技術(shù)突破

1. 光譜工程創(chuàng)新

• 提供10個標(biāo)準(zhǔn)波長選項（740/850/940/1050/1100/1200/1300/1450/1550/1650nm）

• 支持雙波段混合輸出（如940+1450nm組合）

• 光譜半寬窄至±15nm（1550nm型號）

2. 光學(xué)性能優(yōu)化

• 非球面透鏡組實現(xiàn)＞85%均勻性

• 可調(diào)焦設(shè)計（Φ8-14mm光斑連續(xù)可變）

• 瞬態(tài)響應(yīng)時間＜1ms（PWM調(diào)光模式）

3. 工業(yè)級可靠性

• 鋁合金一體成型外殼（IP54防護）

• 智能溫控系統(tǒng)（工作溫度-20℃~50℃）

• 平均安全運行時間＞50,000小時（@25℃）

三、典型應(yīng)用表現(xiàn)

1. 半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域

• 晶圓隱裂識別（1050nm穿透硅基材）

• 芯片封裝氣泡檢測（1550nm高反光成像）

• 精度達2μm級缺陷捕捉

2. 農(nóng)產(chǎn)品分選系統(tǒng)

• 1450nm波段水分含量分析（誤差小于0.5%）

• 近紅外成分快速篩查（每秒30次采樣）

3. 醫(yī)療設(shè)備集成

• 靜脈成像導(dǎo)航（850nm表皮穿透）

• 藥片成分無損檢測（PLS算法支持）

四、技術(shù)服務(wù)支持

• 中國區(qū)48小時技術(shù)響應(yīng)（蘇州/成都備件中心）

• 免費提供光學(xué)仿真方案驗證

• 三年質(zhì)保（含光強衰減補償服務(wù)）

• 支持OEM/ODM深度定制（波長/尺寸/接口）