日本AITEC艾泰克連鎖準(zhǔn)直器照明 LLCC 系列

日本AITEC艾泰克連鎖準(zhǔn)直器照明 LLCC 系列

一、產(chǎn)品核心技術(shù)創(chuàng)新

1. 模塊化準(zhǔn)直光鏈技術(shù)
   采用主控單元（Master Unit）+衛(wèi)星單元（Slave Unit）的架構(gòu)，支持1-6個單元自由組合。通過光纖同步控制系統(tǒng)，實現(xiàn)各單元光束平行度偏差<0.03°，在3米工作距離形成無重疊均勻光帶（600mm寬度內(nèi)均勻度±5%）。

2. 動態(tài)光學(xué)調(diào)節(jié)系統(tǒng)
   配備電動可調(diào)光圈機構(gòu)，可在15°-60°范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)光束角，響應(yīng)時間<50ms。內(nèi)置溫度補償透鏡組，確保環(huán)境溫度變化±20℃時焦點漂移量<0.1mm。

3. 多光譜工業(yè)適配
   基礎(chǔ)配置6500K白光模塊（CRI>95），可選配：

• UV365nm（用于膠水固化檢測）

• IR940nm（金屬內(nèi)部缺陷識別）

• 特殊波段（如580nm銅材氧化檢測）

二、關(guān)鍵性能參數(shù)

項目技術(shù)指標(biāo)光學(xué)輸出單單元光通量2800lm（@DC24V）機械特性壓鑄鎂合金機身，抗沖擊50G電氣參數(shù)功耗25W/單元，支持EtherCAT總線控制環(huán)境耐受工作溫度-30℃~+70℃，IP54防護

三、典型行業(yè)應(yīng)用案例

1. 半導(dǎo)體封裝檢測
   在FC-BGA芯片檢測中，采用3單元LLCC-300M系統(tǒng)：

• 有效識別10μm金線斷裂缺陷

• 誤判率從傳統(tǒng)方案的1.2%降至0.25%

• 配合AOI系統(tǒng)實現(xiàn)UPH（每小時產(chǎn)能）提升18%

2. 新能源電池極片質(zhì)檢
   定制化IR-850nm版本用于涂布檢測：

• 涂層厚度測量精度±1.2μm

• 可檢測0.3mm2微小異物

• 設(shè)備MTBF突破25,000小時

3. 汽車零部件三維測量
   作為結(jié)構(gòu)光投射光源：

• 生成0.15mm寬條紋光

• 曲面重建誤差<8μm

• 支持60fps高速同步采集

四、技術(shù)服務(wù)支持體系

• 快速交付：中國保稅倉儲備主流型號，72小時到貨

• 定制開發(fā)：提供光學(xué)仿真（LightTools軟件支持）

• 質(zhì)保條款：5年核心光學(xué)部件保修（含年度校準(zhǔn)服務(wù)）