日本探頭 jp-probe 斜角SH波探觸子

日本探頭 jp-probe 斜角SH波探觸子

日本JP-Probe斜角SH波探觸子是專(zhuān)為各向異性材料、復(fù)合結(jié)構(gòu)及薄壁構(gòu)件設(shè)計(jì)的高精度超聲檢測(cè)工具，其核心在于激發(fā)和接收?Shear Horizontal（SH）波?——一種粒子振動(dòng)方向平行于界面、垂直于傳播方向的橫波模式。與傳統(tǒng)斜角橫波探頭不同，SH波不依賴(lài)液體耦合介質(zhì)傳播橫波分量，而是通過(guò)特殊曲面楔塊實(shí)現(xiàn)固-固界面的純SH波轉(zhuǎn)換，顯著提升在非均質(zhì)材料中的信噪比與缺陷檢出率。

技術(shù)特性?

波形專(zhuān)精?：采用半圓柱形或弧形楔塊結(jié)構(gòu)，激勵(lì)出非色散的SH波，適用于檢測(cè)層狀復(fù)合材料、焊接接頭、鈦合金薄板中的分層、脫粘與微裂紋。

寬頻適配?：支持30kHz–10MHz頻段，配合JPR-600C系列智能變頻系統(tǒng)，可動(dòng)態(tài)切換10V（精密模式）至600V（穿透模式），實(shí)現(xiàn)0.01mm分辨率與1.5m穿透深度的雙重覆蓋。

聚焦優(yōu)化?：部分型號(hào)采用線聚焦設(shè)計(jì)，使SH波沿一條線同時(shí)以0°–90°入射角掃描，提升對(duì)復(fù)雜取向缺陷的覆蓋能力，避免傳統(tǒng)點(diǎn)聚焦探頭的掃描盲區(qū)。

智能協(xié)同?：支持一鍵波數(shù)編程（1–300波序列），可自定義脈沖串模式，適配自動(dòng)化在線檢測(cè)系統(tǒng)，并通過(guò)云端AI平臺(tái)實(shí)現(xiàn)缺陷特征自動(dòng)比對(duì)與趨勢(shì)預(yù)測(cè)。

典型應(yīng)用場(chǎng)景?

航空航天?：檢測(cè)碳纖維增強(qiáng)聚合物（CFRP）蒙皮的分層缺陷。

核電與壓力容器?：識(shí)別奧氏體不銹鋼焊縫中的沿晶裂紋。

軌道交通?：用于鋼軌軌腰與軌頭連接區(qū)的SH波掃查，規(guī)避常規(guī)橫波的耦合不穩(wěn)定性。

新能源電池?：檢測(cè)鋰電極片疊層界面的微裂紋與脫粘。

選型建議?

頻率選擇?：薄層結(jié)構(gòu)（<5mm）推薦5MHz以上，厚層或粗晶材料選用2.5MHz。

楔塊角度?：根據(jù)材料聲速匹配K值，通常K=1.5–2.5對(duì)應(yīng)SH波入射角30°–55°。

晶片尺寸?：9×9mm提升空間分辨率，13×13mm增強(qiáng)信號(hào)強(qiáng)度。

JP-Probe斜角SH波探觸子以獨(dú)特的波形控制能力，傳統(tǒng)橫波探頭在復(fù)雜結(jié)構(gòu)檢測(cè)中的技術(shù)空白，已成為制造與關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施無(wú)損檢測(cè)的方案。