日本探頭 jp-probe 雙振動(dòng)子縱波斜探頭

日本探頭 jp-probe 雙振動(dòng)子縱波斜探頭

日本JP-Probe雙振動(dòng)子縱波斜探頭是一款專(zhuān)為工業(yè)無(wú)損檢測(cè)設(shè)計(jì)的高性能超聲探頭，其核心創(chuàng)新在于采用雙振動(dòng)子結(jié)構(gòu)，即在一個(gè)探頭內(nèi)集成發(fā)射與接收兩個(gè)獨(dú)立壓電晶片，結(jié)合斜角入射設(shè)計(jì)，顯著提升縱波檢測(cè)的靈敏度與信噪比，廣泛應(yīng)用于航空航天、能源電力、軌道交通等領(lǐng)域的焊縫、管材及復(fù)合材料檢測(cè)。

技術(shù)原理與結(jié)構(gòu)優(yōu)勢(shì)?

該探頭通過(guò)斜楔塊將縱波以小于臨界角的角度斜入射至工件表面，使聲束沿材料內(nèi)部傳播。雙振動(dòng)子結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)發(fā)射與接收信號(hào)的物理隔離，消除傳統(tǒng)單振動(dòng)子探頭的脈沖干擾，同時(shí)通過(guò)優(yōu)化晶片間距與角度，形成聚焦波束，提升檢測(cè)分辨率與抗干擾能力。其斜角設(shè)計(jì)使探頭可檢測(cè)與表面成一定角度的缺陷（如焊縫未熔合），突破垂直入射探頭的局限。

核心性能參數(shù)?

頻率范圍?：3–7.5MHz，兼顧分辨率與穿透深度，高頻段（如5MHz）適用于薄壁材料（<5mm）的微裂紋檢測(cè)，低頻段（3MHz）增強(qiáng)粗晶材料的穿透力。

斜楔角度?：支持定制化設(shè)計(jì)，適配不同厚度工件的缺陷定位需求。

晶片尺寸?：5×5mm至10×10mm，小型晶片提升近場(chǎng)分辨力，大型晶片增強(qiáng)信號(hào)強(qiáng)度。

耦合方式?：支持干耦合與水膜耦合，適應(yīng)高溫、粗糙或不便液體接觸的工業(yè)環(huán)境。

智能功能?：兼容JPR-600C智能變頻系統(tǒng)，支持10V–600V動(dòng)態(tài)功率調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)從微弱信號(hào)捕捉（10V低功耗）到高強(qiáng)度穿透檢測(cè)（600V高壓）的無(wú)縫切換。

典型應(yīng)用場(chǎng)景?

航空航天?：檢測(cè)航空鋁材蒙皮、機(jī)翼梁的疲勞裂紋與腐蝕坑。

能源電力?：評(píng)估鍋爐管道、汽輪機(jī)軸瓦的曲面區(qū)域，定位深層缺陷。

軌道交通?：掃查高鐵輪對(duì)輪緣與踏面過(guò)渡區(qū)，預(yù)防疲勞斷裂。

選型建議?

薄壁件（<3mm）?：選用6MHz以上高頻探頭，提升分辨率。

粗晶/高衰減材料?：采用3–4MHz低頻探頭，增強(qiáng)穿透力。

復(fù)雜曲面?：優(yōu)先選擇帶弧形斜楔的定制型號(hào)，確保聲束穩(wěn)定耦合。