日本探頭 jp-probe 聚焦探頭垂直 水浸 寬頻

日本探頭 jp-probe 聚焦探頭垂直 水浸 寬頻

日本JP-Probe聚焦探頭：垂直聚焦與水浸寬頻技術(shù)的融合創(chuàng)新?

日本JP-Probe聚焦探頭系列以垂直聚焦與水浸寬頻技術(shù)為核心，為工業(yè)無損檢測領(lǐng)域提供了高精度、非接觸的解決方案。其設(shè)計(jì)結(jié)合了聲學(xué)聚焦原理與寬頻信號處理技術(shù)，適用于金屬、復(fù)合材料及異形工件的缺陷檢測，尤其在微裂紋、氣孔等亞表面缺陷的定位與成像中表現(xiàn)突出。

垂直聚焦技術(shù)：聲束能量集中，分辨率顯著提升?

JP-Probe聚焦探頭通過內(nèi)置曲面晶片或聲透鏡，將超聲波束聚焦于垂直方向，形成點(diǎn)聚焦或線聚焦聲場。在焦點(diǎn)處，聲能高度集中，橫向分辨率提升至0.01mm級別，可精準(zhǔn)捕捉5μm級微裂紋。例如，在渦輪葉片蠕變損傷評估中，垂直聚焦探頭能清晰分辨材料內(nèi)部裂紋的擴(kuò)展方向與深度，為疲勞壽命預(yù)測提供可靠數(shù)據(jù)。此外，焦點(diǎn)直徑與焦柱長度可調(diào)，適配不同檢測場景：小焦點(diǎn)直徑（如2.7mm）適用于高精度缺陷定位，長焦柱則支持深層缺陷檢測，穿透深度達(dá)1.5m。

水浸寬頻設(shè)計(jì)：非接觸檢測，適應(yīng)復(fù)雜工件?

水浸式探頭通過水作為耦合介質(zhì)，實(shí)現(xiàn)探頭與工件的非接觸檢測，避免直接磨損，尤其適合自動化檢測系統(tǒng)。JP-Probe水浸探頭支持30kHz～10MHz超寬頻段，兼容納米材料表征與重型設(shè)備探傷需求。例如，在鋰離子電池極片檢測中，低頻段（如30kHz）用于穿透多層結(jié)構(gòu)評估脫粘情況，高頻段（如10MHz）則聚焦表面微缺陷分析。其動態(tài)功率調(diào)節(jié)系統(tǒng)（10V～600V自適應(yīng)）可無縫切換微弱信號捕捉與高強(qiáng)度穿透模式，適應(yīng)不同材料衰減特性。

模塊化擴(kuò)展與智能化應(yīng)用?

JP-Probe探頭支持模塊化擴(kuò)展，可選配高溫探頭、相控陣模塊，升級為全自動檢測系統(tǒng)。例如，在航空領(lǐng)域，其非接觸空氣耦合技術(shù)（NAUT）被JAXA用于碳纖維復(fù)合材料檢測，實(shí)現(xiàn)無損、無害的自動化掃描。此外，探頭集成一鍵波數(shù)編程（1～300波序列自由組合）與云端數(shù)據(jù)管理功能，檢測報(bào)告自動同步至云端，支持AI缺陷比對與趨勢預(yù)測，顯著提升檢測效率與數(shù)據(jù)可追溯性。