產(chǎn)品分類
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計(jì)®離線型 可以檢查薄膜等表面膜厚不均 可以快速且高精度地進(jìn)行全面測量 膜厚測量的專門制造商所提供的充實(shí)支持 分光測量進(jìn)行高精度的膜厚測量 硬件和軟件均為原創(chuàng)設(shè)計(jì)
日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計(jì)®在線型 采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)了全面無“漏”的膜檢查。 膜厚測量的專門制造商所提供的充實(shí)支持 高速?高精度地測量成為可能 采用抗晃動(dòng)的光學(xué)系統(tǒng) 幅広的樣本(在TD方向上可測量最大10米) 硬件和軟件均為原創(chuàng)設(shè)計(jì)
日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD 這是從紫外線到近紅外區(qū)域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內(nèi)可以進(jìn)行分光光譜測量。通過標(biāo)準(zhǔn)裝置的光纖,可以在不特定樣品種類的情況下,對(duì)應(yīng)各種測量系統(tǒng)。從顯微分光、光源發(fā)光、透過反射測量開始,通過軟件組合,還可以對(duì)應(yīng)物體顏色評(píng)價(jià)、膜厚測量等。
日本OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測器
日本OTSUKA大塚智能膜厚儀 SM-100系列 「便攜式手提類型」1.1公斤,輕便易攜帶 「高精度測量&簡單測量」最薄0.1 μm直到可以測量而無需刻度線 「多層膜也支持」可測量三層及以下的多層膜 「非破壞?非接觸測量」不會(huì)傷害樣品也能進(jìn)行測量 「 ???サンプルを測定」基材(玻璃?塑料)を選ばず測定可能
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計(jì)FE-300F系列 這是一款通過高精度的光干涉法進(jìn)行膜厚測量的小型且價(jià)格低廉的膜厚計(jì),實(shí)現(xiàn)了簡單操作。 我們采用了將所需設(shè)備集成在主機(jī)內(nèi)的多功能型結(jié)構(gòu),從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。 盡管價(jià)格低廉,但通過獲取絕對(duì)反射率,也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)的解析。
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